吊籃冷熱沖擊試驗(yàn)箱  高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)

技術(shù)參數(shù)

1.溫度范圍：-20℃～+150℃，-40℃～+150℃，-60℃～+150℃。

2.溫度波動(dòng)度: ±0.5℃。

3.溫度均勻度：±2.0℃。

4.濕度范圍：10%～98%R.H。（可定制：5%～98%R.H或20%～98%R.H）

5.濕度波動(dòng)度:  ±3.0% R.H。

6.升溫時(shí)間: 線性空載升溫(嚴(yán)格按客戶測(cè)試要求設(shè)定)。

7.降溫時(shí)間: 線性空載降溫(嚴(yán)格按客戶測(cè)試要求設(shè)定)。

8.升降溫模式：溫濕度同步，

9.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率。

吊籃冷熱沖擊試驗(yàn)箱  高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則。

4.GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)。

5.GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)。

6.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫。

7.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫。

8.GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)皓天儀器主營(yíng)產(chǎn)品。

9.GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)。

10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。

設(shè)備的型號(hào)：

1.型號(hào):TSA-36F-2P 工作室尺寸W×H×D:35*30*35cm

2.型號(hào):TSA-80F-2P 工作室尺寸W×H×D:40*35*35cm

3.型號(hào):TSA-100F-2P工作室尺寸W×H×D:40*50*50cm

4.型號(hào):TSA-150F-2P工作室尺寸W×H×D:60*50*50cm

5.型號(hào):TSA-252F-2P工作室尺寸W×H×D:70×60×65cm

6.型號(hào):TSA-480F-2P工作室尺寸W×H×D:85×80×60cm

*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足客戶的多種需要；
采用國(guó)際流行的制冷控制模式，可以自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國(guó)際產(chǎn)品，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；