耐用型HAST非飽和試驗箱 高壓高濕加速老化是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-450 | 瀏覽量:16 |
| 更新時間:2025-12-24 | 是否能訂做:是 |
耐用型HAST非飽和試驗箱 高壓高濕加速老化的生產廠家,東莞市皓天試驗設備有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品
在半導體、汽車電子及航空航天等領域,產品的長期可靠性直接決定了終端設備的性能與安全。傳統的自然老化測試耗時漫長,無法滿足快速迭代的研發與嚴苛的質量管控需求。
非飽和HAST(Highly Accelerated Stress Test)高壓加速老化試驗箱,正是為解決這一核心痛點而設計的可靠性測試設備。它通過精準模擬并強化高溫、高壓、高濕(非飽和) 等多重環境應力,在實驗室內將產品數年甚至數十年的自然老化過程,加速至數百小時內完成。本設備專為評估芯片封裝、半導體器件、電子元件及高分子材料等在嚴苛環境下的耐久性、密封性和抗濕氣能力而打造,是進行失效分析、壽命評估、質量篩選及工藝優化的關鍵工具。
我們的設備設計與制造嚴格遵循國際及國內主流可靠性測試標準,確保您的測試數據在地球范圍內獲得認可:
IEC:IEC 60068-2-66 (試驗Cx), IEC 60749
JEDEC:JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (無偏壓HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)
國標:GB/T 2423.40
汽車電子:AEC-Q100/Q101
行業評價方法:支持如《復雜組件封裝關鍵結構壽命評價方法》(T/CIE 143-2022)等標準中提及的加速壽命試驗要求。
耐用型HAST非飽和試驗箱 高壓高濕加速老化
HAST試驗機是提升電子產品可靠性的通用工具,廣泛應用于:
半導體與微電子:車規級芯片、IC封裝、MOSFET、存儲器、傳感器等。
電子元器件:PCB/PCBA、LCD模組、連接器、電容、電阻、磁性材料、光電組件(LED、光伏)。
新材料研發:高分子材料、復合絕緣材料、封裝膠(如EVA)、特種涂料等耐濕熱老化性能評估。
制造:航空航天電子設備、通信設備等可靠性要求很高的領域。
專業的行業理解:我們深度理解芯片封裝失效機理(如分層、腐蝕、離子遷移等),能為您提供貼合實際的測試方案建議,而不僅僅是銷售設備。
工藝與穩定性:采用圓弧形內膽設計防止冷凝水滴落損壞樣品;壓力實際感應偵測技術確保溫濕壓參數精準;長效穩定運行能力滿足超過300小時的連續測試需求。
智能化的便捷操作:配備觸控系統和數據管理軟件,支持遠程監控、測試曲線追溯和報告一鍵生成,大幅降低操作門檻。
完善的售后服務:提供專業的安裝調試、操作培訓、定期維護和快速響應的技術支持,確保設備在整個生命周期內高效運行。






