高溫高壓HAST試驗箱 非飽和老化測試 是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件(如IC芯片、PCB、連接器)和材料在惡劣環境下的潛在缺陷,如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等,從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
| 型號:HT-HAST-450 | 瀏覽量:15 |
| 更新時間:2025-12-24 | 是否能訂做:是 |
高溫高壓HAST試驗箱 非飽和老化測試的生產廠家,東莞市皓天試驗設備有限公司擁有專業的生產研發技術,一站式周到服務。作為一家專注于試驗設備產品的大型儀器制造商,皓天設備致力于為消費者提供技術、品質的優秀產品
HAST,即高度加速應力測試,是一種通過模擬嚴苛高溫、高濕及高壓環境,加速材料老化過程的試驗方法。
試驗箱內部溫度可調節范圍達105℃至143℃,相對濕度60%至百%,壓力高可達0.2MPa表壓。這些參數可根據測試需求精細調控。
非飽和高壓環境是HAST的核心特點。與傳統的飽和蒸汽老化試驗不同,非飽和環境能更有效地模擬實際濕熱條件,避免因表面結露導致的局部過度老化。
試驗過程中,溫濕度均勻度可控制在≤±2℃、≤±5%RH的范圍內,確保所有樣品處于一致的老化環境中。
我們的設備設計與制造嚴格遵循國際及國內主流可靠性測試標準,確保您的測試數據在地球范圍內獲得認可:
IEC:IEC 60068-2-66 (試驗Cx), IEC 60749
JEDEC:JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (無偏壓HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)
國標:GB/T 2423.40
汽車電子:AEC-Q100/Q101
行業評價方法:支持如《復雜組件封裝關鍵結構壽命評價方法》(T/CIE 143-2022)等標準中提及的加速壽命試驗要求。
高溫高壓HAST試驗箱 非飽和老化測試
HAST試驗機是提升電子產品可靠性的通用工具,廣泛應用于:
半導體與微電子:車規級芯片、IC封裝、MOSFET、存儲器、傳感器等。
電子元器件:PCB/PCBA、LCD模組、連接器、電容、電阻、磁性材料、光電組件(LED、光伏)。
新材料研發:高分子材料、復合絕緣材料、封裝膠(如EVA)、特種涂料等耐濕熱老化性能評估。
制造:航空航天電子設備、通信設備等可靠性要求很高的領域。
HAST測試遵循一套系統化的操作流程。樣品準備階段,測試人員會對LED封裝或光伏組件樣品進行清潔和標記,確保表面無污染。
接著是預處理環節,樣品會在25℃、50%相對濕度的標準環境下放置24小時,以消除內部應力。初始測試會記錄樣品的外觀狀態、電性能參數等基礎數據。
試驗參數根據相關標準設定。對于LED測試,常采用的條件是130℃、85%相對濕度、2個大氣壓;光伏組件則可能采用130℃、85%相對濕度、230KPa的壓力條件。
樣品被放入試驗箱后,持續承受設定的應力條件。試驗期間會定期進行中間測試,監測性能變化。達到預定時間或出現失效標準時,試驗終止。
試驗結束后,樣品需在標準大氣條件下恢復24小時,然后進行全面評估,與初始數據對比,分析其性能變化和可靠性。






